Настольный сканирующий электронный микроскоп Phenom G2

СТАТЬЯ ИЗ РУБРИКИ: «КОНТРОЛЬ И ДИАГНОСТИКА»

Микроскоп Phenom™ G2

Desktop Scanning Electronic Microscope Phenom™ G2
The company “Melytec-Ukraine” presents an effective desktop scanning electron microscope Phenom G2 produced by Phenom-World (Netherlands) for materials science, quality control, forensics, pharmaceuticals, researches and training. The scanning electron microscope Phenom G2  allows to receive the images of structure in the range of magnification of 80x to 45,000x and with resolution up to 25 nm.


Е.В. Верцанова,
к.т.н., ООО «Мелитэк-Украина», г. Киев

Специалистам подразделений контроля качества на производстве, научно-исследовательских лабораторий и других отраслей, в чьи непосредственные обязанности входит проведение материалографических исследований, компания «Мелитэк-Украина» представляет эффективный и универсальный настольный сканирующий электронный микроскоп Phenom G2 производства Phenom-World (Нидерланды).

Компания Phenom-World — ведущий мировой производитель настольных сканирующих электронных микроскопов (SEM) и решений для задач субмикронного уровня. Ее производственные мощности располагаются в высокотехнологичном регионе — г. Эйндховен, Нидерланды. Это стратегически важное положение, а также сотрудничество с компаниями-партнерами NTS, Sioux и FEI обеспечивают Phenom-World доступ к самым передовым и современным технологиям.

Уникальная конструкция настольного сканирующего электронного микроскоп Phenom G2 позволяет применять его для решения большого числа разнообразных задач материаловедения: контроля качества на производстве, криминалистики, фармацевтики, научно-исследовательских задач и для обучения специалистов.

Управление посредством сенсорного экрана и поворотной кнопки обеспечивает удобную и быструю работу, а также точную навигацию. Переключение в электронный режим полностью автоматизировано и происходит при нажатии всего лишь одной кнопки. Для последующей работы и анализа полученные изображения можно сохранять на flash-карту USB 2.0 или на жестком диске персонального компьютера. Благодаря применению новой запатентованной технологии уже через 30 секунд после загрузки образца можно начинать работать и получать изображения с высоким разрешением.

Применение четырехсегментного детектора обратно рассеянных электронов позволяет получать изображения как в композиционном (стандартное изображение), так и в топографическом (рельеф поверхности) режимах. Высокая яркость, длительный срок службы источника CeB6 (гексаборид церия) и запатентованная система быстрой загрузки образцов обеспечивают оператору свободный доступ к широким возможностям. Это — оптимизированная по своим характеристикам система, дающая лучшее отображение результата в своем классе.

Настольный сканирующий электронный микроскоп Phenom G2 прост в управлении и имеет дружественный интерфейс. Два дополнительных окна для навигации существенно упрощают работу особенно при больших увеличениях.

Компания Phenom-World предлагает две модели настольных сканирующих электронных микроскопов: Phenom G2 pure и Phenom G2 pro. Обе модели отличаются простотой в использовании и высокой скоростью работы.

Программный пакет Pro Suite включает набор специальных прикладных программ, позволяющих выделить максимум информации из изображения. Таким образом, практически все свойства образцов могут быть изучены с помощью системы Phenom G2 pro, укомплектованной программным пакетом Pro Suite.

СТАНДАРТНЫЕ ПРИЛОЖЕНИЯ PRO SUITE:

  • MeasureIT — проведение измерений на полученном изображении;
  • Automated Image Mapping — получение панорамных изображений.

Программа позволяет пользователям автоматически соединить несколько изображений с высоким разрешением в одно большое панорамное. После определения интересующей области программа начинает сканирование при требуемом увеличении и разрешении. Изображения объединяются в одно большое, по которому можно перемещаться для более детального исследования. Отдельные изображения также могут быть сохранены в базе данных;

  • Remote User Interface — интерфейс удаленного доступа.

Программа позволяет:

  • осуществлять удаленный доступ к Phenom G2,
  • взаимодействовать с коллегами, находящимися на расстоянии друг от друга,
  • получать изображения образцов,
  • сохранять изображения на USB, сервере или локальном диске.

Это идеальное решение для удаленной демонстрации результатов в реальном времени во время презентации. В соответствии с вашим желанием интерфейс позволяет службе поддержки удаленно производить необходимые настройки для оптимизации работы на микроскопе.

Phenom G2 pure — экономичное решение, позволяющее получать изображения с увеличением в диапазоне от 70x до 17,000x и разрешением до 30 нм.

Оптическая цифровая навигационная камера, моторизованный предметный стол, интерактивный сенсорный экран и дружественный интерфейс помогают вам легко перемещаться в интересующую область. Просто прикоснитесь на мониторе к интересующему участку изучаемого изображения, и предметный столик автоматически переместит образец в эту область.

Phenom G2 pro — наиболее технически оснащенная и совершенная модель в серии микроскопов Phenom, позволяет получать изображения с увеличением в диапазоне от 80x до 45000x и разрешением до 25 нм.

Функциональные возможности масштабирования (зума) обзорной цветной навигационной камеры позволяют сократить промежуток между оптическим и сканирующим воспроизведением изображения.

Phenom G2 pro может быть дооснащен программным пакетом автоматизированных решений Pro Suite.

ДОПОЛНИТЕЛЬНЫЕ ПРИЛОЖЕНИЯ PRO SUITE:

• Fibermetric — измерение микро- и нановолокон:

автоматический анализ толщины волокон,
автоматическое измерение пор,
количество измерений на одном изображении от 1 до 1000,
сбор статистических данных осуществляется быстро и автоматически,
отсутствие влияния человеческого фактора;

• 3D Roughness Reconstruction — измерение шероховатости и получение трехмерных объектов:

автоматическое измерение шероховатости Ra и Rz,
получение 2D- или 3D-изображений с цветной картой высот,
фильтры обработки изображения,
статистика,
построение профиля по высоте и по плоскости.

Настольный сканирующий электронный микроскоп Phenom™ G2 может быть оснащен разнообразными специализированными держателями образцов. Таким образом, обеспечивается возможность изучать образцы из различных материалов всевозможной формы.

Вставка для изучения поперечного сечения образца.

Вставка предназначена для изучения образцов с покрытиями и многослойных. Специальный механизм крепления позволяет их фиксировать, не привинчивая или используя дополнительный инструмент и принадлежности. Вставка применяется в комбинации с держателем для материалографических образцов (шлифов).

  • Размеры образца: (Ш х Д) 15 х 25 мм, максимальная толщина 10 мм;
  • не требуются дополнительные приспособления для фиксации образца;
  • легкое позиционирование образца;
  • сохраняется изначальное состояние образца.
  • Стандартный держатель образцов

Предназначен для образцов различной произвольной формы диаметром до 25 мм, высотой до 30 мм, фиксирующихся на предметном столике.

Держатель для нетокопроводящих образцов

Предназначен для образцов различной произвольной формы диаметром до 25 мм, высотой до 30 мм, фиксирующихся на предметном столике. Держатель используется для исследований таких материалов, как бумага, полимеры, органические материалы, керамика, стекло, материалы с покрытиями и т. п. Он позволяет отказаться от дополнительной пробоподготовки нетокопроводящих образцов.

Держатель для микроинструмента и вытянутых по вертикали образцов:

  • диаметр образца до 10 мм, длина — до 100 мм,
  • возможность наклона и вращения образца,
  • угол наклона образца: от –5° до +40°,
  • угол поворота образца: от +35° до –35°.

Держатель для материалографических образцов (шлифов).

Предназначен для материалографических шлифов диаметром до 32 мм и высотой до 30 мм.

Предлагая системы Phenom, мы помогаем нашим пользователям получать превосходный и быстрый результат.

Квалифицированную консультацию по выбору оборудования вы можете получить у эксклюзивного представителя компании Phenom-World в Украине:

ООО «Мелитэк-Украина»
03067, г. Киев, бул. Ивана Лепсе, 4, корп. 1, офис 308
Тел.: +380 (44) 454 05 90, факс: +380 (44) 454 05 95
e mail:
infoua@melytec.ru


Новости

ООО МЕЛИТЭК СОВМЕСТНО С КОМПАНИЕЙ PHENOM-WORLD BV ПРОВЕДЕТ СЕМИНАР В МОСКВЕ

24 ноября 2011 года в демонстрационном зале компании МЕЛИТЭК (г. Москва, Россия) пройдет семинар «Современные настольные сканирующие электронные системы компании Phenom-World BV» (Нидерланды) при поддержке украинской стороны.

Karl Kersten, представитель завода-изготовителя, представит курс лекций и продемонстрирует практическую работу с настольными сканирующими электронными системами от компании Phenom-World BV.

В ходе мероприятия участникам семинара будет организована встреча с ведущими специалистами компании МЕЛИТЭК и Phenom-World BV, которые расскажут об инновационных достижениях в методиках проведения анализа, познакомят с новыми образцами оборудования, а также наглядно продемонстрируют его работу. Для этого в демонстрационном зале компании МЕЛИТЭК будут установлены основные модели предлагаемого ею оборудования.

Компания Phenom-World BV (Нидерланды) — ведущий мировой производитель настольных сканирующих электронных микроскопов и решений для задач субмикронного уровня. SEM-системы компании Phenom-World используются для широкого диапазона областей и применений. Сотрудничество с компаниями-партнерами FEI, NTS и Sioux позволяет компании Phenom-World применять в своих разработках самые передовые и современные технологии.

После прохождения семинара всем участникам будут вручены именные сертификаты. Предварительная регистрация обязательна. Зарегистрироваться можно, отправив заявку по адресу:

ООО «Мелитэк-Украина»
03067, г. Киев, бул. Ивана Лепсе, 4, корп. 1, офис 308
e mail: infoua@melytec.ru

Рекламодатели

Партнёры

Новостная рассылка

Будьте в курсе наших последних новостей. Оформите бесплатно персональную новостную рассылку.