ZEISS ULTRA 55. The Presentation has Taken Place
The 160th anniversary of the leading optic company Carl Zeiss was marked in Ukraine by a seminar, where many Ukrainian scientists shared their experience of working with the state-of-the-art electronic microscope ZEISS ULTRA 55 and shared the scientific results obtained with its help. The practical workshop on operation of the microscope aroused general interest and enables the participants to study their specimens.
Один из лидеров современных оптических систем — именитая торговая марка «Карл Цейсс» перешагнула свое 160-летие. Специалисты Украины на практике познакомились с новой разработкой фирмы — электронным микроскопом ZEISS ULTRA 55.
Благодаря тесному сотрудничеству Института сверхтвердых материалов им. В.Н. Бакуля НАНУ с «Карл Цейсс», научно-техническая общественность Украины получила возможность познакомиться с последними разработками фирмы. «Достижения современной электронной микроскопии в исследовании материалов», один из научно-практических семинаров серии, посвященной 160-летию основания фирмы «Карл Цейсс», состоялся 26–27 июня 2006 г. в ИСМ им. В.Н. Бакуля на базе аналитической лаборатории 13/2. При открытии семинара в своем вступительном слове важность такого сотрудничества для развития науки в стране подчеркнул директор ИСМ НАНУ, академик НАНУ Н. В. Новиков: «Развитие современной украинской науки невозможно без современных технических средств, отвечающих мировым стандартам». Благодаря деятельности Отдела Микроскопии фирмы «Карл Цейсс» в Украине, материаловеды научно-исследовательских и заводских лабораторий со всей Украины познакомились с современными методами и средствами электронной микроскопии. ZEISS ULTRA 55 — новейшая разработка, соединяющая в себе все преимущества уникальной автоэмиссионной колонны GEMINI®, которая обеспечивает высокое разрешение во всем диапазоне высокого напряжения, и использования детектора отраженных электронов EsB и детектора вторичных электронов SE, интегрированных в колонну GEMINI®. Уникальная комбинация внутрилинзового детектора SE и детектора EsB позволяют получить одновременно высокий топографический и композиционный контраст. Наличие изображения поверхности с ультравысоким разрешением сочетается с информацией о структуре объекта исследования, что позволяет создавать изображения распределения частиц, четкие изображения границ и измерять детали с высокой точностью. Возможность подключения аналитического оборудования (EDS, WDS and EBSD) делает этот микроскоп высокоэффективным инструментов для решения любых задач исследования материалов.
