Novel Handheld XRF Inspector-2000 GT
Handheld XRF provides cost-effective elemental analysis when time is of the essence and/or when materials cannot be transported, damaged, or altered to fit into a laboratory unit’s sample holder. А new Inspector-2000 GT analyzer combine point-and-shoot simplicity with Pocket PC power and advanced analytical capabilities. It can easily confirm the absence or presence of a metal, identify elements and measure their concentrations.
При организации контроля состава материалов требуется не только высокая точность, но и возможность быстро провести большое количество измерений в различный условиях — в лаборатории, в цехе, в поле. Новый портативный рентгенофлуоресцентный анализатор Inspector-2000 GT фирмы Innov-X Systems Inc. (США) стал еще меньше в размерах и удобнее в работе.
Ю.О. Остапенко, менеджер, «АРМАТОР», г. Днепропетровск
Рентгеновские лучи широко применяются не только в медицине. На их основе разработано множество методов диагностики и контроля, одним из которых является рентгенофлуоресцентная спектрометрия. Этот метод неразрушающего контроля позволяет протестировать образец на наличие в нем определенных атомов и измерить их концентрацию, следовательно — определить элементный состав образца.
Атомы имеют фиксированное число электронов на расположенных вокруг ядра орбиталях. В рентгенофлуорецсцентном анализе обычно используют активность электронов на первых трех орбиталях — K, L и M, где K-орбиталь расположена наиболее близко к ядру. Образец облучают рентгеновскими лучами (фотонами высокой энергии), которые «выбивают» электрон с K-орбитали (рис. 1, а). Теряя электрон, атом превращается в нестабильный, положительно заряженный ион. Электрон с внешней орбитали (L или M) переходит на более низкую, занимая на K-орбитали вакантное место, и возбужденный атом восстанавливает стабильность. Но переход электрона на более низкую орбиту сопровождается потерей энергии, которая высвобождается в виде вторичного рентгеновского излучения. Этот процесс и называют рентгенофлуоресценцией.
